GB/T 25184-2010 X射张光电子能谱仪检定方法

标准介绍：GB/T 25184-2010 X射张光电子能谱仪检定方法

本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。
本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线，且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
标准编号：GB/T 25184-2010
标准名称：X射线光电子能谱仪检定方法
英文名称：Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
标准状态：现行
起草单位：福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室
起草人员：王水菊、时海燕、丁训民
文件格式：PDF
文件页数：25页

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