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JC/T 2149-2012 高纯碳化硅粉体成分分析方法

JC/T 2149-2012 高纯碳化硅粉体成分分析方法

本标准规定了高纯碳化硅粉体中二氧化硅、游离硅、游离碳、铝、砷、钙、铬、铜、铁、钾、镁、锰、钠、镍、铅、钛、锌等的测定方法。 本标准适用于碳化硅含量范围为99.9...

文件名称:JC/T 2149-2012 高纯碳化硅粉体成分分析方法

资源类型:

共享日期:2023-06-11

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标准简介

标准介绍:JC/T 2149-2012 高纯碳化硅粉体成分分析方法

本标准规定了高纯碳化硅粉体中二氧化硅、游离硅、游离碳、铝、砷、钙、铬、铜、铁、钾、镁、锰、钠、镍、铅、钛、锌等的测定方法。
本标准适用于碳化硅含量范围为99.9 %~99.99 %的碳化硅粉体。
标准编号:JC/T 2149-2012
标准名称:高纯碳化硅粉体成分分析方法
英文名称:Method for constitution analysis of high purity silicon carbide
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2012-12-28
实施日期:2013-06-01
标准状态:现行
起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所
文件格式:PDF
文件页数:9页

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